Champ d'application
Principalement utilisé dans les semi-conducteurs, SMT, DIP, overlay IC, BGA, CSP, puce retournée, LED et autres inspections.
Caractéristiques fonctionnelles
Équipement hors ligne dédié aux semi-conducteurs
Équipé d'un semi-conducteur Algorithme de détection automatique
Grossissement géométrique jusqu'à 70×
Résolution ≤2μm
Angle d'inclinaison du détecteur 60 °, La scène peut pivoter à 360°
Compatible avec 2D, 2.5D, 3D extensible
CPS Graphique-CPK&GRR
Paramètres techniques et spécifications
| Résumé du système | |
| Empreinte | 1550*1770*1825mm |
| Poids de la machine | 2900 kg |
| Alimentation | 220 CA/50 Hz |
| Pouvoir | 3,5 kW |
| Tube à rayons X | |
| Type de tube | Type de joint |
| Max. Tension | 110kV |
| Courant de tube | 250 μA |
Taille focale | 5μm |
| Détecteur d'imagerie | |
| Détecteur | Écran haute résolution |
| Détection efficace Zone | 116,4*145,7[mm] |
| Fréquences d'images | 10 ips |
| Pixels | 2532*2944[pixels] |
| Taille des pixels | 49,5 μm |
| Système de contrôle de mouvement | |
| Méthode de contrôle de mouvement | Souris et clavier |
| Bureau | X/Y/Z/R |
| Écran plat | Aller simple Maximum 50° |
Taille de chargement maximale | Φ570[mm] |
| Taille maximale d'inspection | 410*450[mm] |
| Plage de grossissement | ~200X/~50X |
| Logiciel | |
| Réglage automatique de l'image | Enregistrez les coordonnées de l'emplacement et informations sur les paramètres des points caractéristiques |
| Fonction d'édition de localisation | réaliser facilement une détection de fonctionnement multipoint |
| Détermination automatique par algorithme | Equipé d'un algorithme de détection automatique des semi-conducteurs |
| Autres fonctionnalités | |
| Méthode d'ouverture de porte | Porte manuelle |
| Sécurité des rayons X | <1µSv/h (Répond à toutes les normes internationales) |
| * Les spécifications sont sujettes à changement sans préavis. Toutes les marques déposées sont la propriété du fabricant du système. | |
Images de contrôle
Dimensions et apparence
Unicomp | Radiographie Inspection